低電阻率測試儀適用：電線電纜行業、導體及半導體材料行業，碳素、焦化、石化、粉末冶金、高等院校、科研部門對新材料之研究，是檢驗和分析材料樣品質量的一種重要的工具及有效方法。

低電阻率測試儀滿足標準： GB/T6717、GB/T 24525-2009、YS/T63.2、 ISO 11713-2000、YS/T63.2-2005、YS/T 64-1993。GB3048.2-2007、GB/T3048.4-2007、GB/T3952-2008、GB/T3953-2009、GB/T3954-2008、GB/T3955-2009、GB/T3956-2008同時也適用于對導體材料電導率高要求之測試超低值電阻及電阻率測量.本儀器主要由主機和測試治具兩部分組成，結構設計符合人體工學要求，測量電阻靈敏度達0.01μΩ,電阻率靈敏度高達0.0001μΩ·m。 測試電流能達到10A，本儀器測量電壓精度高達±0.05%，輸出恒流直流電流精度和穩定度優于0.1%，確保了本儀器測量電阻精度優于0.2%，可以準確測量材料超低電阻及電阻率。

BEST-300C 型材料電導率測試儀是運用四探針測量原理測試試導體、半導體材料電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。

儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭和測試臺等三部分組成。

主機主要由數控恒流源，高分辨率 ADC、嵌入式單片機系統組成。自動/手動量程可選；電阻率、方阻、電阻測試類別快捷切換：儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入，簡便可靠；具有零位、滿度自校功能；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電鋰電池供電，適合手持式變動場合操作使用！

探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO 膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配專用探頭， 也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。

儀器具有測量范圍寬、精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、外形美觀、使用簡便等特點。

儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。

技術參數：電阻率：10-5～2×106Ω-cm電   阻：10-5～2×106Ω

電導率：5×10-6～105ms/cm分辨率： 小0.1μΩ測量誤差±（0.05%讀數±5字）測量電壓量程： 2mV   20mV  200mV 2V 測量精度±（0.1%讀數）分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續可調，由交流電源供電。
量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，1000mA, 誤差：±0.2%讀數±2字顯示方式：液晶顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算傳感器壓力：200kg  (其他規格可以定制)粉末測量裝置 模具：內徑10mm；高：25mm；加壓方式：手動液壓加壓/自動加壓方式（選購）

電源：220±10% 50HZ/60HZ主機外形尺寸：330mm*350mm*120mm凈重量：約6kg

導電電阻率測試儀功能介紹：本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.使用薄膜按鍵開關面板，操作簡單，耐用，符合人體工學操作規范. 提供中文或英文兩種語言操作界面

導電電阻率測試儀滿足：YST 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測方法 第6部分 粉末電阻率的測定

配置手動粉末測試裝置也可以（選購）自動粉末測試裝置，測試粉末時可以通過裝置獲得粉末壓實后高度、直徑、壓強等數據，輸入儀器后自動計算出所需數據.能方便解決粉末及顆粒物料電阻、電阻率及電導率測量需求，經濟實惠，功能突出，設計合理，是粉末行業理想之測試儀器.

BEST-300C導電材料電阻率測定儀

按照硅片電阻率測量的國際標準（ASTM F84）及標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準，本機配置232電腦接口及USB兩種接口，本機采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產品測量，更加準確.

本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購

維護和保養

1 .使用者的維護

為了防止意外發生，請不要接觸機內部件。本機器內部所有的零件，絕對不需使用者的維護。如果機器有異常情況發生，請直接與瑞柯儀器公司廠家聯系或其的經銷商給予維護。

2. 使用者的修改

使用者不得自行更改機器的線路或零件，如被更改機器后保修則自動失效并且本公司不負任何事故責任。在保修內使用未經我公司認可的零件或附件造成故障也不予保證。如發現送回檢修的機器被更改，將機器的電路和零件修復回原來設計的狀態，并收取修護費用。

3.測試工作站

3.1工作位置

工作站的位置選擇必須安排在一般人員非必經的處所，使非工作人員選離工作站。如果因為條件限制的安排而無法做到時，必須將工作站與其這它設施隔開并且特別標明“測試工作站"。如果工作站與其它作業站非常接近時，必須特別注意安全的問題。在測試時必須標明“測試執行中，非工作人員請勿靠近"

4.輸入電源

輸入：220V±10%  使用頻率：50Hz

4.3.3工作場所

盡可能使用非導電的工作桌工作臺。操作人員和待測物之間不得使用任何金屬。操作人員的位置不得有跨越待測物去操作或調整測試儀器的現象。測試場所必須隨時保持整齊、干凈，不得雜亂無章。測試站及其周邊之空氣中不能含有可燃氣體或在易燃物質。

4.3.4人員資格

本儀器為精密儀器，必須由訓練合格的人員使用和操作。

4.3.5安全守則

操作人員必須隨時給予教育和訓練，使其了解各種操作規則的重要性，并依安全規則操作。

4.3.6衣著規定

操作人員不可穿有金屬裝飾的衣服或戴金屬手飾和手表等，這些金屬飾物很容易造成意外的感電。

4.3.7醫學規定

絕對不能讓有心臟病或配戴心律調整器的人員操作。

4.4測試安全程序規定

一定要按照規定程序操作。操作人員必須確定能夠*自主掌控各部位的控制開關和功能。

4.5安全要點

● 非合格的操作人員和不相關的人員應遠離測試區。

● 萬一發生問題，請立即關閉電源并及時處理故障原因。

1.使用前期準備--測試前準備工作：

1.1.開機預熱：將220V電源插頭插入電源插座，打開電源開關，讓儀器預熱15分鐘，保證測試數據穩定。若測試儀無常啟動，請按以下步驟檢查：

①檢查電源線是否接觸良好；

②檢查后面板上的電源開關是否已經打開

③檢查保險絲是否熔斷，如有必要，請更換保險絲

④ 如經上述檢查無誤后，測試儀仍未正常啟動，請聯系本公司進行解決。

1.2.準備好被測物，鏈接好測試探頭，把測試探頭接口與主機接口相連接，并鎖定，防止松動或接觸不良而對測試結果造成影響.

1.3.接通電源，開啟電源開關，待儀器液晶顯示屏上顯示出廠家和產品信息后，如圖3，按“顯示"鍵進入，

1.4.進入測試功能界面如圖4、圖5；如測試方阻時，請選擇液晶顯示屏又側對應 的功能按鍵“方阻"，則進入方阻測試界面；如測試其他材料時，請選擇“材料"則進入材料電阻，電阻率，電導率測試儀界面。

1.5.設置好被測物所需之參數，把被測物放于測試治具平臺上操作，測試完畢直接顯示測試數據。如配置軟件，軟件操作說明書同安裝軟件在一起，請注意查看操作步驟.

以下分別講解方阻和材料測試的設置

2.四探針方阻測試步驟

2.1.上述步驟中1項，使用前期準備

2.2 把被測物測試所需要之參數數據設定：

2.2.1依據不同之測試樣品，選擇被測試電流，電流設置：按方向鍵移動光標至“電流"功能，按“設置"鍵進入；再按“左右"方向鍵選擇電流數據，選擇完畢后按“確定"鍵進行確認。按照以上步驟和方法選擇電壓、長度單位、探針形狀設定、溫度.

2.2.2.探針間距數據的輸入，探針間距出廠時已經標定，無需再次測量，探針頭上有詳細的探針數據資料，探針間距的設置：將光標移動至“探針間距"按“設置"鍵進入，通過面板上面的“數字"按鍵輸入數據按“確定"鍵進行確認；按照以上方法和步驟設定"厚度“，注意厚度和探針間距修正系數表已經設置在儀器程序中，自動修正，無需再次輸入和查詢表格。

2.3.測試探頭和測試平臺操作

選配測試平臺的將被測物放在測試平臺上，調節探頭探針與樣品良好接觸，探頭有二種，一種是探針是彈簧針型，一種是硬針而探頭內腔有彈簧；探頭有方型和直線型兩種結構；調節測試平臺上的水平定位角，保證水平儀水準在中心位置；放置好被測物品，后壓下探頭至被測物，帶數據穩定后讀取

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